02.LCR的使用方法：基礎(chǔ)知識

LCR的典型運算公式

阻抗Z由實數(shù)部分（Rs）和虛數(shù)（X）部分組成，復平面上展開的話則可以求出各參數(shù)值。以下公式是表示阻抗的關(guān)系的運算公式。

等效電路模式

LCR測試儀測量被測物中流過的電流以及被測物兩端的電壓后再求出Z和θ。而且，L、C、R等測量參數(shù)根據(jù)Z和θ計算得出。計算測量參數(shù)值的運算公式在串聯(lián)等效電路模式或并聯(lián)等效電路模式中是不同的。LCR測試儀端無法判斷被測物是哪一種電路模式，因此為了減小誤差需要選擇正確的等效電路模式。計算時假設(shè)串聯(lián)等效電路模式下Cs（或Lx）和電阻成分Rs為串聯(lián)連接，假設(shè)并聯(lián)等效電路模式下Cp（或Lp）和電阻成分Rp為并聯(lián)連接。
一般來說，測量大容量的電容或低阻抗的低阻元件（約100Ω以下）時，使用串聯(lián)等效電路模式，而測量低容量的電容或高阻抗的高阻元件（約10kΩ以上）時，使用并聯(lián)等效電路模式。
各等效電路模式的測量值通過計算求出，因此可以顯示雙方的數(shù)值，但是請注意根據(jù)被測物不同所對應(yīng)的等效電路也會有差異。

開路補償、短路補償

測量被測物時所使用的的測試治具中存在殘留成分，可以使用如圖所示的等效電路來表示。因此，測量值Zm如下表示為包含殘留成分的公式。為了求得真值Zx，需要求出開路殘留成分和短路殘留成分對測量值進行補償。此類補償分別被稱為開路補償、短路補償，LCR測試儀就具備這類功能。
Zm：
測量值
Zs：
短路殘留阻抗（Rs：殘留電阻、Ls：殘留電感）
Yo：
開路殘留導納（Go：殘留電導、Co：雜散電容）
Zx：
真值（被測物的阻抗）

測量信號電平

從LCR測試儀輸出的測量信號通過輸出阻抗R和被測物Zx進行分壓。并不是將所設(shè)置的測量信號電平V直接外加在被測物Zx上。
LCR測試儀有3種測量信號模式。
開路電壓（V）模式：
設(shè)置圖中的測量信號電平V。這是測量端子開路時的電壓。

恒壓（CV）模式：
設(shè)置圖中的Vx（被測物Zx的端口電壓）。用于測量高介電常數(shù)的MLCC等具有電壓依賴性的被測物。

恒流（CC）模式：

設(shè)置圖中的I（被測物Zx中流過的電流）。用于測量帶芯的電感等具有電流依賴性的被測物。